博尔塔拉200mm 晶圆级原子力显微镜
适配 200 毫米机台在片检测,形貌成像稳定,支持批量测量。
设备噪声低至 0.05nm RMS左右,支持形貌、MFM、EFM、KPFM、PFM、C-AFM 等多物性表征,可完成8英寸及更大规格晶圆、薄膜及各类样品的微纳形貌与电学、磁学、力学检测。
青藤科仪|主营原子力显微镜、白光轮廓仪,覆盖 200 毫米机台、300 毫米机台、超大机台、晶圆级计量型、桌面型、超薄测头等全系列机型,适配半导体、化合物半导体、新型显示、材料科研等场景。设备噪声低至0.05nm RMS左右,支持形貌、MFM、EFM、KPFM、PFM、C-AFM等多物性表征,可完成8英寸及更大规格晶圆、薄膜、各类样品的微纳形貌与电学、磁学、力学检测,配套自研分析软件,检测精度与样品兼容性突出。
依托产品自研自产供应链,探针、备件常备库存,供货稳定,可快速响应高校院所、企业批量采购需求。
我们提供一站式全周期服务:上门安装调试、现场操作培训、标准质保、7×24小时线上技术咨询,终身免费软件升级,同步支持远程诊断、备件更换、定期仪器校准;全国多地均设有技术站点就近响应,针对疑难样品可联合原厂硕博研发团队定制专属表征测试方案,交付稳定靠谱,欢迎咨询选型、样机测试与报价!
覆盖 200 毫米机台、300 毫米机台、超大机台、晶圆级计量型、桌面型、超薄测头等机型,适配半导体、化合物半导体、新型显示与材料科研场景。
适配 200 毫米机台在片检测,形貌成像稳定,支持批量测量。
覆盖 300 毫米晶圆全片扫描,支持边缘与关键区域检测。
大尺寸台面设计,兼容面板、异形件与超大规格样品。
计量型架构,重复性与一致性表现稳定,适合产线抽检。
紧凑结构设计,占地小,适合实验室灵活部署与教学科研。
超薄测头结构,适配狭小空间与特殊形态样品的表征需求。
支持 MFM、EFM、KPFM、PFM、C-AFM 等多种物性表征模式。
面向化合物半导体与新型显示材料,薄膜与微纳形貌检测。
从选型、样机测试到安装培训、终身软件升级,全国多地技术站点就近响应,让设备长期稳定运行。
工程师现场完成装机、参数标定与验收,确保设备进场即可投入使用。
提供操作、日常维护与数据分析培训,帮助使用人员快速上手。
依托自研自产供应链,探针、备件常备库存,供货稳定。
线上技术咨询随时响应,支持远程诊断、备件更换与定期仪器校准。
配套自研分析软件持续更新,功能与算法升级不额外收费。
针对疑难样品,可联合原厂硕博研发团队定制专属测试与表征方案。
全国多地技术站点就近响应,大量晶圆检测项目落地验证,交付稳定可靠。